分析速度快：
  部分用戶更加關(guān)注分析速度而非進(jìn)度，SPECTRO-XEPOS X射?線熒光光譜儀可以滿足這類要求，幫助操作人員大幅縮減測量時(shí)間，而獲得的進(jìn)度水平卻不屬于傳統(tǒng)的ED-XRF光譜儀。該系統(tǒng)分析速度快，只需要數(shù)分鐘即可完成大部分楊平的分析工作。
  超預(yù)期的經(jīng)濟(jì)性：
  該儀器通過多種策略降低用戶長期持有使用成本，比如在分析液體和粉末的輕元素時(shí)，進(jìn)行低速氦氣吹掃而對固體樣品測試則采用的真空系統(tǒng)。最重要的是各項(xiàng)新功能確保其性能可同更昂貴的WD-XRF技術(shù)相媲美。因此，SPECTRO-XEPOS X射線熒光光譜儀用戶以ED系列的價(jià)格獲得了WD系列的性能！憑借自適應(yīng)激發(fā)等先進(jìn)技術(shù)，我們推出了數(shù)款預(yù)置機(jī)型，最大程度滿足購買者的特定分析需求。用戶可以根據(jù)測量速度、最終精確度或特定基體的分析目標(biāo)元素來自由選擇。
  無與倫比的精確：
  與大多數(shù)的ED-XRF分析儀不同，SPECTRO XEPOS的X射線管在測量期間始終處于開啟狀態(tài)，從而避免開/關(guān)時(shí)參數(shù)變化對讀數(shù)的影響，并確保良好的長期穩(wěn)定性，有助于充分發(fā)揮儀器的超高靈敏度，提升元素分析精度-比以往提高3倍。另一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是可以顯著提高從痕量元素到主量成分所有濃度區(qū)間的分析準(zhǔn)確性。
  更低的檢測限：

  SPECTRO-XEPOS X射線熒光光譜儀組合先進(jìn)組件來打造頂尖性能。它采用新型高計(jì)數(shù)率探測器和高性能射線管設(shè)計(jì)來實(shí)施專屬的自使用激發(fā)計(jì)數(shù)，優(yōu)化分析性能，進(jìn)而提升靈敏度，減輕背景干擾，大幅降低元素的檢測限。

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